合金片表面异物EDS主成分分析测试
合金片表面异物的EDS（能量色散X射线谱）主成分分析测试是一种用于确定合金片表面异物成分的分析技术
EDS分析技术
EDS，也称为能谱分析，是一种常用的分析技术，它可以与扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM）配合使用，对材料微区的成分元素种类与含量进行分析。EDS利用电子束与物质作用时产生的特征X射线来提供样品的化学组成信息，能够定性、半定量检测大部分元素（Be4-PU94），包括超轻元素如碳、氮、氧等。EDS还可以用于表面污染物的分析。
EDS分析
数据采集：使用SEM或TEM的EDS附件，对合金片表面的异物进行X射线光子信号的采集。
信号处理：通过放大器放大电脉冲信号，并使用多道脉冲高度分析器将脉冲按高度不同编入不同频道，从而把不同的特征X射线按能量不同进行区分。
定性分析：在EDS的谱图中，谱峰代表样品中存在的元素。定性分析是分析未知样品的第一步，即鉴别所含的元素。
定量分析：定量分析是通过X射线强度来获取组成样品材料的各种元素的浓度。这通常涉及到测量未知样品和标样的强度比，并经过定量修正换算成浓度比。
元素面分布分析：在近代的新型SEM中，可以获得样品某一区域的不同成分分布状态。通过电子束在试样上做二维扫描，测量其特征X射线的强度，并使与这个强度对应的亮度变化与扫描信号同步在阴极射线管CRT上显示出来，从而得到特征X射线强度的二维分布的像。
EDS分析
分析速度快，效率高：能对原子序数在11—92之间的所有元素进行快速定性、定量分析。
稳定性好，重复性好。
适用于粗糙表面的成分分析：如断口等。
能对材料中的成分偏析进行测量。
PCB板金手指成分分析。
饰品镀金层成分分析。
电化学抛光后表面残留物分析。
未知样品成分剖析。
EDS主成分分析测试能够有效地确定合金片表面异物的成分分析。
